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Industrielle Messtechnik GmbH

SOLUTIONS FOR QUALITY MANAGEMENT

Wählen Sie:

  • Dokumentation

     

    Ihre Daten zählen

    Die heutigen mikroskopischen Methoden bestehen aus einer ganzen Reihe an Datenerfassungs- und Datenverarbeitungsschritten: Die Software Ihres Mikroskops muss all diese Stadien bewältigen. Von der visuellen Überwachung Ihrer Proben, Bilderfassung, Bildbearbeitung und Analyse bis hin zur Archivierung und Berichterstellung. Die Daten müssen in hierarchisch strukturierten Archiven, die von der Software Ihres Mikroskops bereitgestellt werden, geordnet werden, wobei vorzugsweise alle verbundenen Datensätze unter einer einzelnen Projektnummer gespeichert werden.

     

    Verwaltung leicht gemacht

    Informationen wie Bildnummer, Aufnahmedatum, Mikroskopein-stellungen, Größen- und Umfangsdaten, Kontrasttechniken etc. müssen in der Bilddatei gespeichert werden. Anmerkungen sollten leicht zugänglich sein. Sie werden mit dem Originalbild, aber als separate Daten gespeichert und nicht in das tatsächliche Bild eingebrannt. Die Aufnahmeinformationen müssen jederzeit verfügbar sein, damit Bilder und Messungen auch noch nach Jahren unter identischen Bedingungen reproduziert werden können.

     

    Transparenz und Sicherheit

    Das Management Ihrer Bilder, der Qualitätssicherung bzw. der Kunden-daten sollte jederzeit transparent und sicher sein. Die Archivie-rungsmerkmale müssen Suchfunktionen beinhalten, die es Ihnen erlauben, nach Projekten oder Kategorien sowie Zeitrahmen oder Probennamen zu suchen. Die zu den Bildern gehörigen wichtigen Daten müssen klar angezeigt werden.

     

    Berichte

    Für die Erstellung von Berichten benötigen Sie eine Auswahl an individuell formatierten oder vordefinierten Layouts. Informationen wie Messwerte, Analyseergebnisse, Tabellen, Diagramme und Bilder sollten verfügbar und nach Ihren Bedürfnissen geordnet sein.

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren. Nutzen Sie einfach unser Kontaktformular

     

    Empfohlene Produkte für die Dokumentation

    AxioVision
    ATLAS

    AxioVision

    Kameras

    SmartSEM

    ATLAS

  • Metallografie

     

    Wir kennen Ihre Normen und Standards

    Viele metallografische Analysemethoden werden nach Normen und Standards definiert. Das gilt zum Beispiel für die Feststellung nicht-metallischer Einschlüsse (NMI) in Stahl oder für die Analyse von Korngrößen. Um solche Parameter nach internationalen Normen analysieren zu können, benötigen Sie ein Metallograf- oder Mikroskopsystem, das mit dedizierten Softwaremodulen ausgerüstet ist. Die Standardprüfmethode für den Gehalt an nicht-metallischen Einschlüssen - ein wichtiger Faktor für die Stärke und Bruchfestigkeit von Stahl - kann mithilfe eines Mikroskopsystems durchgeführt werden, das mit einem hochspezialisierten Softwaremodul ausgestattet ist. Wenn Sie in der Stahlindustrie arbeiten oder Güter aus Stahl herstellen - zum Beispiel in der Automobilindustrie oder in der Maschinenproduktion - benötigen Sie ein System, das es Ihnen ermöglicht, nicht-metallische Einschlüsse (NMI) im Stahl automatisch und reproduzierbar nach aktuellen internationalen Normen zu analysieren.

     

    Korngrößenbestimmung

    Die Analyse der Korngrößen ist eine weitere wichtige Qualitätssicherungsanalyse in der Produktion von Stahl und anderen Metallprodukten. Die Korngröße eines Materials trägt zu seinen Eigenschaften wie Härte und Festigkeit bei. Ein dediziertes Mikroskop-Software-Modul ermöglicht es Ihnen, die Korngröße einer Vielzahl von Materialien nach aktuellen internationalen Standards zu ermitteln. Die Analyse muss automatisiert werden und Sie sollten im Idealfall aus verschiedenen Messmethoden wählen können.

     

    Analysieren Sie Grafitpartikel

    Die mechanischen Eigenschaften von Gusseisen werden stark von Form, Größe und Verteilung der Grafitpartikel beeinflusst. Diese Parameter werden mithilfe eines Softwaremoduls für Grafitpartikelmessung und Gusseisenanalyse nach bestimmten Normen ermittelt und klassifiziert. Auch hier müssen Sie die Möglichkeit haben, Daten automatisch zu speichern und Analysen gemäß internationalen Normen und internen Richtlinien durchzuführen.

     

    Mehrphasen-Analysen

    Eine in industriellen Anwendungen häufig verwendete materialografische Methode ist die Mehrphasenanalyse, bei der Phasen gemessen und evaluiert werden und die Porosität bestimmt wird. Auch hier benötigen Sie ein spezifisches Softwaremodul, um Phasenverteilung und Phaseninhalt sowie Größe, Form und Ausrichtung der Phasen präzise und vollautomatisch analysieren zu können.

     

    Relevante Bereiche:

    Gehalt an nicht-metallischen Einschlüssen (NMI) in Stahl nach DIN EN 10247, DIN 50602, ASTM E 45, ISO 4967 oder JIS G0555 Korngrößenanalyse nach DIN EN ISO 643, ASTM E 112 oder ASTM E 1382

    Gusseisen / Grafitpartikelanalyse: Bestimmung von Größe und Form nach EN ISO 943 oder Modularität nach

    SAE J 1887 Mehrphasenanalyse

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren.

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    Empfohlene Produkte für die Metallografie

    AxioVision

    Axio Observer

    ParticleSCAN VP

    Particle Analyzer

    Das NMI-System

    Stemi DV4

    Stemi 2000

    Kameras

    SteREO Discovery.V8

    Axio Lab:A1

    Axio Vert.A1

    Axio Scope-A1

    Axio Imager 2

  • Nanotechnologie

     

    Design und Fertigung in der Nanowelt

    Unter Nanofabrikation versteht man Design und Fertigung von Strukturen in Dimensionen, die in Nanometern gemessen werden. Wenn Sie solche kleinen Strukturen erstellen müssen, sind geladene Partikel wie Ionen oder Elektronen oft die Methode Ihrer Wahl. Die Interaktion zwischen dem Ionen- oder Elektronenstrahl und der Probenoberfläche erlaubt es Ihnen, Strukturen oder Eigenschaften der Oberfläche zu manipulieren. Bei Verwendung in Kombination mit verschiedenen Gasen können Sie komplexe Prozesse wie Ätzen oder Materialdeposition durchführen. Das ermöglicht die Erzeugung überlegener neuer Materialien und Systeme mit komplexen mechanischen, elektronischen, optischen, magnetischen oder fluidischen Eigenschaften.

     

    Nanofabrikation, Patterning und Lithografie

    Die heutigen und zukünftigen Anwendungen erfordern Materialien mit verbesserten elektronischen, magnetischen, optischen und mechanischen Eigenschaften. Viele dieser Eigenschaften werden durch die Struktur und Zusammensetzung im Größenbereich unter 100 nm definiert. Carl Zeiss ist der einzige Hersteller, der Lösungen für die Herstellung von Strukturen vom Millimeter- bis zum Nanometerbereich anbietet. Mit AURIGA Laser erzeugen Sie schnell und effizient Strukturen von mehreren Millimetern bis hinunter zu 20 µm. Für kleinere Strukturen führen Sie Abtragungen mit den Ga-Ionen des fokussierten Ionenstrahls (FIB) oder des Elektronenstrahls von AURIGA durch. Für die Herstellung von Strukturen unter 10 nm mit hohen Aspektverhältnissen verwenden Sie das ORION NanoFab Multi-Ionen-Mikroskop. Der Vorteil dieser Technologie besteht darin, dass die Helium- und Ionenstrahllithografie keine Proximity-Effekte erzeugt. Sie erzielen einheitlich verschachtelte Muster ohne Dosismodifikation zur Berücksichtigung von Proximity-Effekten.

     

    Nanophotonik, Plasmonik und Metamaterialien

    Metamaterialien sind eine Klasse von künstlichen Materialien, deren optische oder magnetische Eigenschaften durch eine Veränderung der Oberflächenstruktur modifiziert wurden. Photonische Kristallstrukturen erlauben eine Verbesserung der Eigenschaften optischer Geräte. Diese sind für alle Produkte für die Lichtübertragung und optische Messung nützlich. Die FIB-Patterning-Lösung von  AURIGA bietet ein leistungsstarkes Paket für die Erzeugung derartiger Strukturen. ORION NanoFab ist das Werkzeug Ihrer Wahl für Anwendungen, die die Erzeugung plasmonischer Strukturen verlangen, die bei optischen Frequenzen oder in höheren Frequenzbereichen eine Oberflächen- oder lokalisierte Plasmonenreaktion zeigen.

     

    Graphenforschung

    Graphen ist ein sehr vielversprechendes Material der nächsten Generation. Wenn dieses Material in gewisse Formen gebracht wird, können bestimmte Eigenschaften wie zum Beispiel die Bandlücke moduliert werden. Graphen ist ein sehr empfindliches Material, weil es nur ein Atom dick ist und sehr schonend bearbeitet werden muss. Mit den schonenden und präzisen Bearbeitungsfunktionen von ORION NanoFab erzeugen Sie komplexe Graphenstrukturen unter10 nm.

     

    Nanopartikel

    Nanopartikel sind im Bereich der Katalyse oder für moderne Nanomaterialanwendungen von großer Bedeutung. Ihr Ziel ist normalerweise eine Charakterisierung von Größe, Form, chemischer Zusammensetzung und Verteilung im Nanometermaßstab oder sogar darunter. Sie untersuchen die wichtigen Funktionen Ihrer Nanopartikel bis zu den kleinsten Größen. ATLAS 3D für AURIGA erlaubt großvolumige Aufnahmen Ihrer Probe bei höchster Auflösung. Das ermöglicht es Ihnen, spezifische Nanopartikel innerhalb einer Polymermatrix zu finden und sie zu analysieren.

     

    Nanoporen

    Nanoporen mit Durchmessern unter 10 nm werden für die Realisierung moderner Geräte mit Anwendungen in verschiedenen Bereichen benötigt. Dazu gehören chemische Sensorik, DNA-Sequenzanalysen, Filtration von Biomolekülen und Röntgenholografie. ORION NanoFab ermöglicht die direkte Herstellung von Nanoporen mit Durchmessern bis 4 nm und hohen Aspektverhältnissen von 10:1 oder mehr.

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren.

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    Empfohlene Produkte für die Nanotechnologie

    AURIGA

    AURIGA Laser

    Crossbeam

    ORION NanoFab

    ATLAS 3D

  • Partikelanalyse

    Analysieren Sie jegliche Partikel

    In der Partikelanalyse wird ein digitales Bild einer Probe nach Anzahl, Größe und Größenverteilung der Partikel analysiert. Je nach Anwendung kann es sich bei den Partikeln um Metallrückstände oder andere Verunreinigungen - zum Beispiel in Bezug auf die Sauberkeit von Flüssigkeiten und Maschinenteilen - Kristallite oder Poren, Fehler oder Blasen handeln. In allen Fällen gelten dieselben grundlegenden Anforderungen: präzise Messungen, hohe Auflösung, motorisierte Tische und Mosaikbilder sowie Bildanalysesoftware.

     

    Restschmutz

    Eine typische und wichtige Anwendung ist die Restschmutzbestimmung. Viele Industrien müssen die Sauberkeit ihrer Produkte unter Zugrundelegung von Industrienormen und Richtlinien sicherstellen und dokumentieren. Ein hergestellter Teil kann mit Schmutzpartikeln, Rückständen und Verunreinigungen bedeckt sein. Nach dem Zufallsprinzip ausgewählte Komponenten werden mit einer festgelegten Fluidmenge abgespült und dann durch eine Filtermembran gedrückt. Etwaige Schmutzpartikel bleiben im Filter haften und können unter dem Mikroskop analysiert werden.

     

    Partikel und Pillen

    In der Pharmaindustrie sind die Partikelgröße und die Verteilung des aktiven Wirkstoffs oft entscheidend für die Wirksamkeit. Das kann den aktiven Wirkstoff in den verschiedensten Formen wie Salben und Tabletten betreffen. In allen Fällen muss die Partikelverteilung detektiert, gemessen und mit der in der Norm oder in einem Betriebsverfahren spezifizierten Verteilung verglichen werden.

    Andere Anwendungsbereiche sind die Untersuchung von Schmutzpartikeln in Schmierstoffen, zum Beispiel bei Windkraftanlagen, oder Fehler in Druckgüssen. Gussfehler (wie Hohlräume und Poren) können zu Brüchen führen. Zur Optimierung des Fertigungsprozesses werden Gussfehler nach ihrer Größe klassifiziert.

     

    Reproduzierbare Automatisierung

    Während Normen Messungen mit und ohne Verwendung automatisierter Bildanalysen vorsehen, sind automatisierte Bildanalysen der heutige Stand der Technik. Das System sollte in der Lage sein, ganze Proben in einem einzigen Schritt zu erfassen, Partikel automatisch nach Größe zu klassifizieren und normengemäße, reproduzierbare Ergebnisse auch für kleinste Partikel zu erzielen. Auch sollte es sich leicht in hausinterne Testspezifikationen integrieren lassen.

     

    Die Komplettlösung für Mikro- und Nanopartikel

    Korrelative Mikroskopie mit Shuttle & Find liefert Ihnen nähere Informationen über die chemische Zusammensetzung der Partikel. Hier bietet die Elektronenmikroskopie mit EDX-Detektion die benötigten Funktionen.

     

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    Empfohlene Produkte für die Partikelanalyse

    AxioVision

    Axio Imager 2

    MERLIN

    SIGMA

    ParticleSCAN VP

    SmartSEM

    SteREO Discovery.V12

    SteREO Discovery.V20

    Axio Zoom.V16

    Shuttle & Find

    EVO MA

  • Messung

    Maßgeschneidert und komplett für Experten und Einsteiger

    Ob Sie in der Industrie für die Qualitätssicherung zuständig sind oder in einem Forschungslabor neue Materialien entwickeln - digitale Mikroskopsysteme bilden die Grundlage Ihrer Anwendung. Die Lösung muss sowohl für Experten als auch für Einsteiger geeignet sein, anwendungsspezifische Module beinhalten und sich problemlos an Ihre internen Prüfspezifikationen und an neue Standards anpassen lassen - kurz gesagt, eine maßgeschneiderte Komplettlösung, die auf Ihre individuelle Aufgabe abgestimmt ist. Auf Mikro- und Nanoebene.

     

    Interaktive Messung

    Grundlegende Parameter bilden die Basis jeder Messung und umfassen Fläche, Winkel, Umgebung, Durchmesser, Schwerpunkt und viele andere Faktoren. Oft müssen Sie interaktiv festlegen, welche Messungen in welcher Reihenfolge durchgeführt werden müssen und diese dann in der spezifizierten Abfolge umsetzen. Ein interaktives Messmodul muss daher eine große Auswahl an Parametern wie beispielsweise grundlegende geometrische und densitometrische Parameter und die Messung von Grau- und Farbwerten bereitstellen.

     

    Vereinfachen Sie Ihre Routineaufgaben

    In vielen Fällen müssen Sie Ihre Routineaufgaben vereinfachen, indem Sie automatische Messverfahren erstellen. Ihre Software sollte es Ihnen erlauben, die Messparameter Ihrer Wahl zu definieren und sie auf eine beliebige Zahl von Bildern anzuwenden, sodass Sie in nur einem Schritt schnelle, präzise und reproduzierbare Bildanalysen erstellen können. Noch höher entwickelte Module sollten es Ihnen ermöglichen, die gesamte Struktur einer Probe einschließlich Segmentierung und Analyse binärer Bilder automatisch zu messen und zu dokumentieren.

     

    Topografie und Schichtdicke

    Ob Sie technische Oberflächen überwachen oder Rauigkeitsmessungen zur Beurteilung von Produktionstoleranzen durchführen möchten - Ihre Software muss ein Topografiemodul beinhalten, das Höhenprofile auf der Grundlage von Z-Stapel-Bildern erstellt. So können Sie entlang einer Profillinie messen, die Sie in das topografische Bild einzeichnen, oder die Oberfläche in Bezug auf Welligkeit oder Rauigkeit nach Standards analysieren.

    Eine weitere häufige Anforderung in Industrie und in Materialwissenschaft besteht in der Messung von Schichtdicken, zum Beispiel im Zusammenhang mit verschiedenartigen Beschichtungen. Dazu benötigen Sie ein Softwaremodul, das automatisch einfache und komplexe Schichten in Probenquerschnitten aufdecken und analysieren kann.

     

    Restschmutz

    Arbeiten Sie in der Auto- oder Pharmaindustrie oder sind Sie für die Sauberkeit technischer Teile verantwortlich? Analysieren Sie Restschmutz auf Filtermembranen, inspizieren Sie Schmierflüssigkeiten, decken Sie Fehler in Druckgüssen auf oder überprüfen Sie die Verteilung kristalliner pharmakologischer Wirkstoffe in Salben. Sie werden Partikel aller Größenklassen in einem einzigen Schritt messen, klassifizieren und dokumentieren wollen - vollautomatisch und nach allen allgemein gültigen Normen.

     

    Nichtmetallische Einschlüsse

    Arbeiten Sie in der Stahlindustrie oder in der Stahlproduktfertigung? NMI ermöglicht es Ihnen, den Gehalt an nicht-metallischen Einschlüssen in Stahlstrukturen automatisch und reproduzierbar zu messen und auf diese Weise Zeit und Geld zu sparen. Führen Sie Analysen nach allen allgemein angewendeten Stahlnormen – zum Beispiel EN 10247 – in kürzester Zeit.

     

    Relevante Bereiche:

    • Halbleiter
    • Metrologie

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren.

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    Empfohlene Produkte für das Messen

    SmartSEM

    Particle Analyzer

    NMI-System

    Particle Scan VP

    ATLAS

    MERLIN

    SIGMA

    AURIGA

    Crossbeam

    AxioVision

  • Inspektion und Routineaufgaben

    Schnelligkeit und Reproduzierbarkeit

    Die Qualität Ihrer Produkte und die Produktion müssen während laufenden Produktionsprozessen schnell und reproduzierbar kontrolliert werden. Wenn Fehler auftreten, ist Zeit Geld. Sie müssen nach den Fehlerursachen suchen und sie so schnell wie möglich eliminieren. Mikroskop-Produkte von ZEISS für visuelle Inspektion und Routineaufgaben verbessern Ihre Qualitätssicherung und beschleunigen Ihre Produktkontrolle.

     

    Detektion und Analyse

    Während Ihres Produktionsprozesses ist es schwierig, die ganze Bandbreite möglicher Fehler zu erkennen. Sie müssen nach kleinsten Unregelmäßigkeiten auf Oberflächen suchen oder die interessierende Struktur auf Phasen, Korngröße, Texturen und Präzipitate untersuchen. Gleiches gilt für Strukturfehler Ihrer Komponententeile, wie Einschlüsse, Porosität, Hohlräume, Risse und Inhomogenitäten.

     

    Prüfen Sie mit ZEISS Mikroskopen PCBs und elektronische Kontakte bei hoher Auflösung. Untersuchen Sie die Oberfläche von Solarzellen auf strukturelle Homogenität und Regelmäßigkeit, Spannungsverteilung und Mikrorisse. Bei Ihrer Arbeit müssen Sie vielleicht Partikel, Kratzer und Defekte auf Wafern identifizieren oder TFT-Displays auf Pixelfehler untersuchen. Als Uhrmacher kontrollieren Sie winzige Teile wie Rädchen, Federn, Brücken, Zahnräder, Glocken- und Sperrradschrauben. In Ihrem Job sind Sie für die Qualitätssicherung medizinischer Komponenten im Nanometerbereich verantwortlich.

     

    Wie filigran oder schwierig Ihre Aufgabe auch immer sein mag: Die Sichtinspektion mit hochauflösenden Mikroskopsystemen von ZEISS vereinfacht Ihre wichtige Arbeit und gewährleistet die erforderliche Präzision.

     

    Ergonomie und Dokumentation

    Egal ob Sie die Vollständigkeit Ihrer Produktmontage oder die Positionen bestimmter Teile überprüfen, Maße und Konturen inspizieren, Elektronikteile reparieren oder Ihre Proben für weitere Untersuchungen vorbereiten - Sie benötigen ein ergonomisches, bedienungsfreundliches Werkzeug. Ergotubes und große Arbeitsabstände tragen dazu bei, Ihre Produktivität zu erhöhen und ermüdungsbedingte Inspektionen zu reduzieren. Mikroskopsysteme für die visuelle Inspektion und für Routineaufgaben garantieren reproduzierbare Ergebnisse und eine hundertprozentige Qualitätssicherung, die zu einer höheren Produktivität führt. Archivieren Sie Ihre Berichte und Ihre Dokumentationen für spätere Vergleiche und für die Qualitätssicherung. Und verschaffen Sie sich einen Vorsprung vor Ihrer Konkurrenz.

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren. Nutzen Sie einfach unser Kontaktformular

    Empfohlene Produkte für die Inspektion

    AxioVision

    EVO für Materialanalyse

    Stemi DV4

    Stemi 2000

    SteReo Discovery.V12

    SteREO Discovery.V8

    Axio Lab.A1

    Axio Zoom.V16

    Axio Vert.A1

    Kameras

 IMTEC GmbH·Hönnetalstraße 150·58675 Hemer·Tel.: +49 2372 9690-0·Fax: +49 2372 9690-10·Email: info@imtecgmbh.com

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Aufgaben und Anwendungen Materialmikroskopie in Wissenschaft und Industrie Als führender Hersteller von Mikroskopsystemen bieten wir Komplettlösungen für Industrie, Materialforschung und Wissenschaft an. Wählen Sie aus der untenstehenden Liste Ihr spezifisches Forschungsthema und Ihre Applikation. Erfahren Sie mehr über die Voraussetzungen für erfolgreiches Imaging und wie Sie von unseren maßgeschneiderten Systemen für Weitfeld-, Konfokal- und Elektronenmikroskopie profitieren können.