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Industrielle Messtechnik GmbH

SOLUTIONS FOR QUALITY MANAGEMENT

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  • Chemie und Pharmaindustrie

    Partikelgröße und Morphologie

    Die Effektivität Ihrer synthetischen Materialien oder Arzneimittel hängt nicht nur von ihrer chemischen Zusammensetzung ab, sondern auch von der Partikelgröße und Morphologie ihrer aktiven Inhaltsstoffe und ihrer Matrices. Die Licht- und Elektronenmikroskopie spielt eine wichtige Rolle in F&E und in der Qualitätssicherung. Mikroskopische Untersuchungen werden in verschiedensten Bereichen angewendet - sei es Morphologie und Wachstum von Kristallen, Entwicklung und Herstellung von Tabletten und Arzneimittelverabreichungssystemen, Dickenbestimmung von Beschich-tungen oder Entwicklung bestimmter Eigenschaften künstlicher Fasern.

    In Forschung und Fertigung müssen oft Partikelanalysen durchgeführt werden. Dazu dienen dedizierte, automatisierte Softwaremodule, die Industriestandards entsprechen.

     

    Detektieren von Verunreinigungen

    Im Zuge von Prozess- und Qualitätskontrollen müssen Verunreinigungen in Rohprodukten und Behältern detektiert und identifiziert werden. Aktive Substanzen in Kristall- oder Pulverform werden auf Größe, Form und Größenverteilung geprüft - Faktoren, die Auswirkungen auf ihre Freisetzungsrate und in der Folge auf ihre Wirksamkeit haben können.

     

    Die stets richtige Technik für Ihre F&E

    In ähnlicher Weise haben Größe und Form von Partikeln Auswirkungen auf die Eigenschaften neu entwickelter Materialien wie Polymermischungen. In-situ-Kristallisationsstudien mit Polarisationsmikroskopie können zum Beispiel wichtige Informationen in diesem Kontext liefern. Die Entwicklung und Herstellung von Farben oder Lacken beinhaltet die Prüfung solcher Schutzbeschichtungen auf Härte und Anfälligkeit für verschiedene Arten von Korrosion. Diese Prüfungen werden von den Ergebnissen der Konfokalmikroskopie, einer leistungsstarken Methode zur Messung von Rauheit und Filmdicke und zur Darstellung von Topographien, unterstützt. Auch die Merkmale von Kunstfasern werden unter dem Mikroskop untersucht.

     

    Oberfläche und Beschichtungen

    Die Beschichtung von Tabletten ist in der Arzneimittelherstellung sehr wichtig, da sie als Schutzschicht dient und das Abgabeverhalten der aktiven Wirkstoffe kontrolliert. Die Beschichtungsfunktionalität korreliert mit Beschichtungseigenschaften wie Dicke und Porosität. Sie untersuchen die Morphologie von Beschichtungen in Arzeimittelverabreichungssystemen und messen die Filmdicke mithilfe konventioneller und konfokaler Techniken. Rasterelektronenmikroskope in Verbindung mit optionalen Röntgenanalysesystemen (EDS) messen und klassifizieren Form und chemische Zusammensetzung von Partikelproben automatisch und speichern diese Daten.

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren. Nutzen Sie einfach unser Kontaktformular

    Empfohlene Produkte für Chemie- und Pharmaindustrie

    SmartSem

    SteReo Discovery.V12

    ParticleSCAN VP

    Shuttle & Find

    SteREO Discovery.V20

    Axio Zoom.V16

    Axio Imager 2

    EVO MA

    SIGMA

    MERLIN

  • Forensik

    Forensische Untersuchungen

    In der Forensik verwenden Sie Licht- und Elektronenmikroskope für die Analyse sehr kleiner Proben. So gewinnen Sie schlüssige Erkenntnisse über den Ursprung vielfältiger Materialien, die für die Beweiskette von Bedeutung sind. Untersuchungen von Schmauch- und Werkzeugspuren, Tinten- und Papieranalysen, Abgleich von Lack, Haaren und Fasern sowie Identi-fizierung anderer Spuren sind nur einige Ihrer Interessensbereiche. Sie analysieren Mikrostrukturen, Körner oder Position und Ursprung von Rissen.

     

    Fehleranalysen und Fraktographie

    Um eine höhere Auflösung zu erzielen, werden Fehleranalysen normalerweise mit einer Kombination eines Stereomikroskops wie SteREO Discovery.V12 und Axio Scope.A1 durchgeführt. Für forensische Analysen wie die Dokumentation der Projektilaußenschicht und deren geringsten Spuren ist Axio Zoom.V16 mit seiner exzellenten Verlässlichkeit das Werkzeug Ihrer Wahl. In der Fraktographie, die sich mit der Analyse vonBruchoberflächen befasst, bietet die Konfokalmikroskopie dank ihrer Fähigkeit, dreidimensionale volumetrische Darstellungen zu erfassen, erhebliche Vorteile gegenüber anderen Techniken.

     

    Untersuchungen im Mikrometer- oder Nanometer-Maßstab – Ihre Aufgabe entscheidet

    SteREO Discovery.V12 wird in der forensischen Dokumentuntersuchung verwendet, zum Beispiel für die Erkennung der Herkunft des verwendeten Papiers, die Übereinstimmung zerrissener Papierstückchen oder die Untersuchung von Perforationen und Einrissen. Das Rasterelek-tronenmikroskop (SEM) EVO MA löst Merkmale bis in den Nanometerbereich auf und ermöglicht so die Erkennung von Form und Größe. In Verbindung mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskop (EDS) erkennt das System die elementare Zusammensetzung der Proben und stellt die Verteilung der Komponenten in Proben mit einer räumlichen Auflösung im Mikrometerbereich dar.

     

    Schmauchspuren

    Schmauchspuren (GSR) sind Partikel, die von einer Feuerwaffe, einer Patronenhülse, einem Zündmittel oder einer Kugel herrühren. GSR auf einer Hand oder einem Körper können darauf hinweisen, dass sich die betreffende Person kürzlich in der Nähe einer Feuerwaffe aufgehalten oder eine solche bedient oder entladen hat. Die Größe von GSR-Partikeln kann zwischen 0,1 µm und 20 µm variieren. Das Rasterelektronenmikroskop EVO MA wird in Kombination mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) normaler-weise für die Identifizierung von GSR-Partikeln auf Proben von Tatorten oder Verdächtigen verwendet.

     

    Lackanalyse

    Lacke sind eine wichtige Spurenquelle und können Forensikern bedeutsame Informationen liefern. Die forensische Lackanalyse wird bei Verkehrsunfällen, in Mordfällen und für die Analyse von Graffiti, Einbrüchen und Fälschungen verwendet. Neben der Farbe sind auch die Anzahl der Lackschichten und ihre Reihenfolge wichtige Faktoren, die ansonsten nicht unterscheidbare Lackproben verbinden. Das Zoom-Mikroskop Axio Zoom.V16 wird als Hauptinstrument für die Identifizierung der Lackfarbe und der Anzahl der Schichten verwendet. Das Rasterelektronenmikroskop EVO MA liefert gemeinsam mit einem EDS-System nähere Informationen über die einzelnen Schichten wie Schichtzahl, Schichtdicke, elementare Zusammensetzung der einzelnen Schichten, Verteilung und Größe der Pigmentpartikel und Verunreinigungen.

     

    Forensische Toxologie

    Metalle wie Arsen, Blei, Quecksilber, Thallium und Antimon können, wenn sie im Körper in großen Mengen vorhanden sind, zu schweren Schädigungen mit Todesfolge führen. In kleinen Mengen aufgenommen, können diese Metalle zu schweren gesundheitlichen Problemen wie Magenschmerzen, Leberschäden, Kreislauf- und Hautproblemen und Krebs führen. In forensischen Labors werden mikroskopische Gewebe-untersuchungen meist im Rahmen einer Untersuchung durchgeführt. Rasterelektronenmikroskopie (SEM) unter variablen Druckbedingungen (VP) mit EVO MA wird für das Imaging und die Analyse kleiner Fragmente nicht leitender Materialien auf menschlichem Weichgewebe eingesetzt. Außerdem kann EVO MA in Verbindung mit elektronendispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) zur Identifizierung von auf dem Gewebe abgelagerten Chemikalien verwendet werden.

     

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    Empfohlene Produkte für die Forensik

    SteREO

    Discovery.V8

    SteREO

    Discovery.V12

    Axio Zoom.V16

    EVO MA

    SIGMA

    MERLIN

    Axio Scope.A1

  • Geologie- und Explorationswissenschaften

    Geowissenschaft

    Die Geowissenschaft, das Studium der Erde, unterstützt kommerzielle Aktivitäten auf dem Gebiet Rohstoffe. Von der Mikropaläontologie bis hin zu mineralogischen Untersuchungen liefern Mikroskope seit über hundert Jahren Bild- und Analyseergebnisse. Durch Technologien wie Röntgen- und Kathodolumineszenzanalysen und unsere Fortschritte in der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) erweitern wir die Forschungskapazitäten unserer Kunden in aller Welt. SEM mit variablem Druck ermöglichen die Darstellung dünner Schnitte und polierter Kernoberflächen ohne Notwendigkeit einer Karbonbeschichtung. Imaging im Umweltbereich ermöglicht die Lokalisierung hydrophiler Stellen im Sandgestein von Öllagerstätten, während die Kombination von Ionenstrahltechnologie und SEM die Darstellung der internen Mikroporosität von Schiefergestein ermöglicht.

     

    Mineralien-Identifizierung

    Die meisten Gesteinsproben bestehen aus optisch anisotropem Material. Zwei der wichtigsten Eigenschaften, die für die Materialidentifizierung unter einem Lichtmikroskop herangezogen werden, sind die Farbe und die optischen Eigenschaften des Minerals selbst. Die Polarisationsmikroskopie spielt daher eine wichtige Rolle in geologischen Untersuchungen, indem sie die Analyse von Korngröße und Form, Kristallinität und Morphologie von Mineralien ermöglicht und ihre Identifizierung erleichtert. ZEISS bietet eine große Bandbreite von Polarisationsmikroskopen von Axio Lab.A1 Pol oder Lab.A1 Conoscopy für die Bildung geologischer und mineralogischer Klassen bis hin zu Axio Scope.A1 und Vert.A1 für Mehrzweck-Routinearbeiten und Axio Imager 2 und Observer für Forschungsanwendungen.

     

    Mikrofossilien und Biostratifikation

    Die Untersuchung von Mikrofossilien liefert detaillierte Informationen über eine stratigraphische Sequenz für die Öl- und Gasexplorationsindustrie. Das Vorhandensein von Mikrofossilien ermöglicht die Identifizierung der unterschiedlichen Klassen  und erlaubt die relative Datierung der Lagerstätten. Dünnschliff-Durchlichtmikroskopie und Auflichtmikroskopie mit einem aufrechten Mikroskop wie Axio Imager 2 oder Scope.A1 mit polarisiertem Licht bieten eine schnelle und einfache Visualisierungsmethode. Das Rasterelektronenmikroskop EVO liefert Bilder mit hoher Auflösung um unterschiedliche Details der Species zu zeigen.

     

    Geochronologie

    Isotopanalysen von Zirkonkristallen liefern geochronologische Informationen. Risse oder Defekte in den Zirkonkristallen können als Hinweise auf Blei- und Uranvorkommen verstanden werden. Dies ist für Geologen deshalb bedeutsam, weil die Ergebnisse der Isotopenanalyse durch solche Umweltschäden beeinträchtigt sein können. Die Charakterisierung von Zirkonen durch Rasterelektronenmikroskopie vor der Durchführung der Isotopenanalyse dient der Identifizierung der bestgeeigneten Zirkone. Dadurch werden Effizienz und Genauigkeit der Laborergebnisse verbessert, und eine effizientere Nutzung kostspieliger Instrumente zur Massenspektrometerie ermöglicht. Das mit einem Backscattered Electron Detektor (BSD) und einem Kathodenluminiszenz-Detektor (CL) ausgestattete Rasterelektronenmikroskop EVO ist die beste Lösung für die Bestimmung der qualitativ hochwertigsten Zirkone für die Isotopenanalyse.

     

    Porositätsanalyse

    Die Optimierung der Öl- und Gasextraktion erfordert ein detailliertes Verständnis der Mikrostruktur der Lagerstätte. Trägergestein wie Sandstein enthälteingeschlossenes Öl und Gas imPorenraum zwischen Körnern, Ton und den anderen Materialien, aus denen es besteht. Der Zusammenhalt zwischen den Poren beeinflusst die Permeabilität des Öls und des Gases, die ihrerseits die mögliche Förderungsrate der Lagerstätte bestimmt. In dichtem Sandstein machen Porengröße und eingeschränkte Permeabilität die Extraktion zu einer größeren Herausforderung. Das Verständnis der Permeabilität des Trägergesteins ist entscheidend für die Optimierung des Ertrags und die Senkung der Extraktionskosten. Die Morphologie der Trägergesteinsprobe kann mit einem Lichtmikroskop wie Axio schnell untersucht werden, und die mikrostrukturelle Gesteinsanalyse kann mit einem Rasterelektronenmikroskop mit Kathodenluminiszenz- (CL-)Detektor wie EVO durchgeführt werden.

     

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    Empfohlene Produkte für die Geologie und Rohstoffe

    AxioVision

    EVO MA

    SIGMA

    MERLIN

    SmartSEM

    ParticleSCAN VP

    Axio Lab.V1

    Axio Scope.A1

    Axio Imager 2

    Shuttle & Find

  • Maschinen- und Werkzeugbau

    Robuste Routinen und anspruchsvolle Forschung

    Licht- und Elektronenmikroskope werden in den Bereichen Maschinenbau und Produktion einer vielfältigen Palette von Geräten und mechanischer Komponenten verwendet. Sie müssen sowohl robuste Routineinstrumente für standardisierte Messungen als auch hochwertige Forschungswerkzeuge beinhalten. Sie führen lichtmikroskopische Untersuchungen in der Erforschung und Entwicklung neuer Materialien, in der Prozesskontrolle von Oberflächen, Schweißnähten und Verbindungselementen sowie in der Qualitätssicherung und Fehleranalyse durch.

     

    Strukturelle Untersuchungen

    Die zugrundeliegende Ursache von Frakturen Ihrer Stahlbauteile kann oft auf mikrostrukturelle Defekte zurückzuführen sein, die ihrerseits Risse verursachen. Beide Ursachen können mithilfe von Lichtmikroskopen identifiziert werden. Die Integrität von Verbindungselementen wie Muttern und Schrauben ist für die strukturelle Statik Ihrer Vorrichtung ebenfalls von entscheidender Bedeutung. Wenn die Auswirkungen von Spannungen, Wärmeeinwirkung oder Belastung auf die Materialeigenschaften eines Metalls oder einer Legierung untersucht werden sollen, konzentrieren sich die Untersuchungen häufig auf Merkmale wie Mikrostruktur, Korngrenzen und Morphologie.

     

    Topografie und Schichtdicke

    3D-Techniken wie konfokale Mikroskopie liefern Ihnen topographische Informationen zum Beispiel über Rauheit oder Höhenprofile. Sie prüfen die Qualität technischer Oberflächen, analysieren die Ergebnisse der Präzisionsbearbeitung und evaluieren den Zustand von Schneidwerkzeugen.

    Werkzeuge und mechanische Komponenten sind oft durch verschiedene Beschichtungen gegen Verschleiß, Korrosion und Wärme geschützt. Die Dicke der Schicht muss sowohl während des Aufbringungsprozesses als auch in der Qualitätssicherung nach allgemeinen Standards überwacht werden. Verschiedene Mikroskopie-Techniken wie Kalottenprüfungen, unterstützt durch spezielle Mikroskop-Software-Module, helfen Ihnen, die Schichtdicke zu messen.

     

    Nichtmetallische Einschlüsse

    Eines der wichtigsten Qualitätsthemen in der Stahlproduktion ist die "Sauberkeit". Während des Herstellungsprozesses können verschiedene Variablen zu Unreinheiten im Produkt führen. Diese hauptsächlich nichtmetallischen Einschlüsse (NMI) können von der Schlackendecke über der Gussform oder von der Ofenauskleidung herrühren. Häufig entstehen Einschlüsse auch durch chemische Reaktionen mit Legierungselementen, durch Abscheidung von Gasen oder durch verunreinigende Elemente aus Recycling- Metall. Art und Menge der nichtmetallischen Einschlüsse haben signifikante Auswirkungen auf die mechanischen und physikalischen Eigenschaften des Stahls wie z.B. Zugfestigkeit, Härte oder Ermüdungsgrenze und können zu einem kritischen Ausfall des gesamten Teils führen.

     

    Unterstützen Sie Ihre Arbeit mit Spezial-Software

    Für den Maschinen- und Werkzeugbau bietet sich unsere korrelative Mikroskopie-Lösung Shuttle & Find an. Diese Kombination von Licht- und Elektronenmikroskopie erlaubt die Korrelation visueller Untersuchungsergebnisse und chemischer Analysen von Merkmalen mit EDX. Prüfverfahren, die durch Normen geregelt werden, erfordern spezielle Software. Nichtmetallischen Einschlüsse in Stahl und die Verteilung der Korngröße können viele mechanische Materialeigenschaften wie Dauerhaftigkeit und Bruchfestigkeit beeinflussen. Diese Untersuchungen werden routinemäßig mithilfe entsprechender Software-Module durchgeführt. Quantitative Partikelanalysen von Verunreinigungen und Maschinen-Tailings dienen zur Ermittlung der Sauberkeit der Teile nach dem Herstellungsprozess und werden ebenfalls mit speziellen Mikroskopen und Softwareprogrammen durchgeführt.

     

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    Empfohlene Produkte für Maschinen- und Werkzeugbau

    SmartSEM

    NMI-System

    Particle Analyzer

    Axio Vert.A1

    Axio Lab.A1

    EVO MA

    SIGMA

    Axio Scope.A1

    LSM 700

    Shuttle & Find

    Axio observer

    Axio Imager 2

    JetScan

    ParticleSCAN VP

    MERLIN

  • Mikroelektronik und MEMS

    Beobachten – Analysieren – Identifizieren

    In der Mikroelektronik- und MEMS-Industrie beobachten, analysieren und identifizieren Sie die Eigenschaften Ihrer Produkte. Dasselbe gilt für die Prozesskontrolle und Fehleranalyse. Die Kenntnis der physikalischen Struktur Ihrer Vorrichtung ist entscheidend für das Verständnis des Prozesses. Die Entwicklung von Mikroelektronik und Design mechanischer Mikrosystemen (MEMS) erfordert effiziente Mikroskope. Funktionale Merkmale wie Risse, Hohlräume oder Verbindungen können in beliebiger Zahl untersucht werden. Bei der Herstellung miniaturisierter mechanischer Geräte dient die Lichtmikroskopie als Werkzeug für die Beurteilung von Prototypen und das Monitoring der Ergebnisse der Präzisionsbearbeitung.

     

    Qualitätssicherung – immer das richtige Werkzeug

    Viele Aspekte der Qualitätskontrolle in der Produktion können mithilfe von 3D-Imaging-Techniken besonders effektiv abgedeckt werden. Ein konfokales Scanning-Mikroskop ermöglicht es Ihnen, kritische Faktoren wie Schweiß- und Lötstellen zu prüfen und berührungslose Analysen zum Beispiel von Substraten während des Ätzverfahrens durchzuführen. Ihre typischen Messparameter umfassen Rauheit, Abmessungen und Volumina.

    Während die konfokale Mikroskopie häufig dazu verwendet wird, Oberflächenkonturen und Profile mikrostrukturierter Komponenten zu bestimmen oder Höhe und Tiefe von Merkmalen (darunter solche mit hohen Aspektverhältnissen) zu quantifizieren, kann sie auch unter der Oberfläche liegende Strukturinformationen darstellen. Sie messen die Schichtdicke entweder mit einem konfokalen Mikroskop - oder mithilfe von Probenquerschnitten - mit konventionellen Techniken der Lichtmikroskopie.

     

    Ihre Produkte gehen bis in den Nanometerbereich - wir machen die Details sichtbar

    Die zunehmende Integration von Mikroelektronik in den Nanometerbereich macht es notwendig, diese Strukturen mit einem Rasterelektronen-mikroskop zu untersuchen. SEM liefert Auflösungen im Nanometerbereich mit großer Schärfentiefe und ermöglicht so brillante Bilder, präzise Platinenbearbeitungen und Analysen. Die Platinenbearbeitung mit FIB-SEM erlaubt sogar die Herstellung komplexer Strukturen.

     

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    Empfohlene Produkte für Maschinen- und Werkzeugbau

    Auriga

    Crossbeam

    EVO MA

    SIGMA

    MERLIN

    ORION NanoFab

    Axio Scope.A1

    Axio Imager 2

    Axio Imager Vario

    Axio observer

    LSM 700

  • Bergbauindustrie

    Abbau von Mineralien und Metallen

    Die Bergbauindustrie spielt eine entscheidende Rolle für die Deckung des täglichen Energiebedarfs von Menschen und Unternehmen weltweit. Verbesserungen der von der Industrie verwendeten Technologie sind entscheidend für einen effizienten Abbau wertvoller Ressourcen wie Eisen und Kupfer und Metallen der Platingruppe. Analytische Mikroskopielösungen von ZEISS versorgen die Bergbauindustrie mit detaillierten mineralogischen Informationen, die den Abbau von Rohstoffen erleichtern und den Ertrag erhöhen.

     

    Eisenerz

    Eisen wird im Allgemeinen im Tagebau in großen Tonnagen abgebaut. Während Teile der Lagerstätten oft aus relativ massivem Hämatit oder Magnetit bestehen, die direkt an Kunden verkauft werden können, bestehen die meisten aus einer Mischung von eisenerzhaltigen Materialien und Gangart. Die in diesen Lagerstätten enthaltenen Eisenmineralien müssen klassifiziert und konzentriert werden, bevor sie pelletiert werden können. Analytische Lösungen in der Lichtmikroskopie liefern der Bergbauindustrie detaillierte mineralogische Informationen im Mikrometerbereich für die Klassifikation und Zuordnung von Mineralien . Dank seiner Eignung für Durchlicht- und Auflicht-Anwendungen im polarisierten Licht bietet sich Axio Imager 2 als perfektes Instrument für die Mineralklassifizierung an. Mit seinem motorisch angetriebenen Tisch und "Shuttle and Find" kann Axio Imager 2 mit dem Elektronenmikroskop auch für die korrelative Mikroskopie eingesetzt werden. In der Elektronenmikroskopie kann das konventionelle EVO-Rasterelektronenmikroskop in Kombination mit moderner Software für die Mineralanalyse von ZEISS für die komplette Quantifizierung und chemische Klassifikation von Mineralien verwendet werden. Fortschritte in der Sensitivität der Backscattered Electron Detektion haben auch die Trennung von Hämatit- und Magnetiterzen allein durch Graustufen ermöglicht.

     

    Kupfererz

    Die Charakterisierung und Klassifikation von Kupfererzlagerstätten erfordert die Analyse ihrer mineralogischen Zusammensetzung, die Quantifizierung und die Bestimmung der strukturellen Beziehungen zwischen den Mineralien. Alle drei Aufgaben werden von einem erfahrenen Petrografen mit einem LM und einem SEM in Verbindung mit EDX durchgeführt. Analytische Lösungen in der Lichtmikroskopie liefern der Bergbauindustrie detaillierte mineralogische Informationen für die Klassifikation von Mineralien und Assoziationsbeobachtungen im Mikrometer-Maßstab. Dank seiner Eignung für Durchlicht- und Auflicht-Anwendungen im polarisierten Licht bietet sich Axio Imager 2 als perfektes Instrument für die Klassifizierung von Mineralien an. Mit seinem motorisch angetriebenen Tisch und "Shuttle and Find" kann Axio Imager 2 mit dem Elektronenmikroskop auch für die korrelative Mikroskopie eingesetzt werden. In der Elektronenmikroskopie können Kupfermineralien mit dem konventionellen Rasterelektronenmikroskop EVO im Kombination mit einer modernen Software für die Mineralanalyse von ZEISS vollständig quantifiziert und chemisch klassifiziert werden.

     

    Metalle der Platingruppe

    Mineralogische Analysen von Roherz mit SEM EDS werden immer öfter für die Optimierung der Werksleistung eingesetzt. Eine verlässliche Identifizierung von PGM (Platinum Group Metals) ist jedoch für automatische Standard-SEM-EDS-basierte Mineralanalysesysteme bedingt durch die geringe Korngröße von PGM eine große Herausforderung. Die Folge sind gemischte Spektren und damit komplexe Elementanalysen, wenn an PGM-Körner im Sub-Mikrometerbereich angrenzender Gangart Eingang in Röntgenspektren findet. Die Identifizierung wird dadurch weiter erschwert, dass PGM-Arten oft in Form von festen Lösungen auftreten. ZEISS SmartPI Identiplat™ für Ihr Rasterelektronenmikroskop nutzt die spektralen Merkmale, die alle Minerale in PGM-Erzen kennzeichnen. Diese einmaligen Eigenschaften, die nicht von gemischten Spektren beeinflusst werden, dienen der Identifizierung von PGM-Arten aus den ursprünglichen Spektraldaten. SmartPI-Bericht-Tools dokumentieren Freilegungsgrad, Korngröße und Vorkommensart und liefern damit Informationen, die verwendet werden können, um die Schleif- und Flotationsvorgänge in einer Mine zu überwachen, zu optimieren und Fehler zu beheben.

     

    Diamanten

    Eine der Herausforderungen der Diamantenexploration besteht darin, dass bei der Suche nach Kimberlit-Indikatormineralien Hunderte Feldproben in zeitaufwändigen Analysen untersucht werden müssen. Die Diamantenexploration beginnt mit der Sammlung von Gesteinsproben aus dem Boden oder in Flüssen und mit der Analyse dieser Gesteinsproben in Bezug auf Granaten, Olivin und krustale Xenolithen. Die Lage eines diamanthaltigen Kimberlits kann von der Verteilung von Indikatormineralien an der Oberfläche abgeleitet werden. Die wichtigsten Mineralien in der Kimberlit-Exploration sind Granaten mit der Zusammensetzung Mg3(Ca,Cr2)Si3O12. Die Elementaranalytik jedes Granatkristalls mittels SEM (Rasterelektronenmikroskopie) und EDS (energiedispersive Röntgen-spektroskopie) ergibt ein quantitatives Modell der Zusammensetzung der Feldproben. Besondere Verhältnisse der Elemente Mg und Cr weisen auf einen potenziell diamanthaltigen Kimberlit hin. Mehrere hundert Proben müssen verarbeitet werden, um eine statistische Analyse der Gesteinssammlung zu erhalten. Dies ist ein langwieriger, sich wiederholender Vorgang. ZEISS SmartPI für Ihr Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die automatisierte Partikelanalyse. Sie profitieren von den nicht-subjektiven Ergebnissen und der außer-ordentlichen Zeiteinsparung bei der Suche nach diamanthaltigen Kimberliten.

     

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    Empfohlene Mikroskopprodukte für den Bergbau

    Axio Lab.A1

    Polarisation

    Axio Imager

    Polarisation

    Axio Scope.A1

    Polarisation

    Shuttle & Find

    Particle Analyzer

    SmartSEM

    EVO MA

    SIGMA

    MERLIN

  • Öl- und Gasexploration

    Nanoporosität für die Öl- und Gasexploration

    Die Optimierung der Öl- und Gasextraktion erfordert ein detailliertes Verständnis der Mikrostruktur der Lagerstätte. Trägergesteine wie Schiefer und Sandstein enthält eingeschlossenes Öl und Gas in dem Porenraum zwischen Körnern, Ton und anderen Materialien, aus denen es besteht. Die Verbindung zwischen den Poren beeinflusst die Permeabilität des Öls und des Gases, die ihrerseits die mögliche Förderungsrate der Lagerstätte bestimmt. In dichtem Sandstein machen Porengröße und beschränkte Permeabilität die Extraktion zu einer größeren Herausforderung. Das Verständnis der Permeabilität des Trägergesteins ist entscheidend, um den Ertrag zu optimieren und die Extraktionskosten zu senken. Die Morphologie der Trägergesteinsprobe kann mit einem Lichtmikroskop wie ZEISS Axio Observer schnell untersucht werden. Die mikrostrukturelle Gesteinsanalyse kann anhand eines mit einem Kathodenluminiszenz- (CL-)Detektor ausgestatteten Rasterelektronenmikroskop wie EVO durchgeführt werden. Auch ORION NanoFab bietet eine Ionenmikroskop-Lösung, die hervorragende 3D-Bilder von Oberflächendetails liefert und die quantitative Messung von Porengrößen unter 3 nm ermöglicht.

     

    Dreidimensionale Porosität in Trägergestein für die Öl- und Gasexploration

    Porositäts- und Permeabilitätsanalysen werden durchgeführt, um die kommerzielle Eignung eines Gesteins für die Öl- und Gasindustrie zu bewerten. Mit Axio Scope.A1 oder Imager 2 kann die Porosität gemessen werden, und das Vorhandensein von Öl- und Gaseinschlüssen kann anhand von geologischen Dünnschliffen leicht detektiert werden. Mithilfe eines konfokalen Laser Scanning-Mikroskops (LSM 700) wird ein 3D-Bild erzeugt , und eine volumetrische Näherung der Öl- und Gaseinschlüsse kann berechnet werden. Darüber hinaus bietet AURIGA FIB-SEM die ultrahoch auflösenden Bilder und leistungsstarken Analysefunktionen, die für das Verständnis des Trägergesteins notwendig sind. Die voll automatisierten 3D-Workflows von ATLAS 3D produzieren aufeinander folgende, 5 nm dünne Schnittbilder, die zu einem dreidimensionalen Bild des Gesteins zusammengesetzt werden können. Von der Gesteinsstruktur werden außerordentlich hoch auflösende Bilder mit einmaligem Elementkontrast (mittels EsB-Detektion) erfasst, die Poren und Körner darstellen und zwischen ihnen differenzieren.

    Ein backscattered Elektronenbild einer porösen Gesteinsprobe und ein sekundäres Elektronenbild können verglichen werden, um den Prozentsatz der gefüllten Poren in der Probe zu messen. Diese Technik kann mit AURIGA auf drei Dimensionen erweitert werden, um den Volumenprozentsatz der gefüllten Poren in einer ölhaltigen Matrix zu ermitteln.

     

    Sedimentäre Vitrinitreflexion für die Öl- und Gasexploration

    Die Vitrinitreflexion kann als Indikator für die thermische Reife kohlenwasserstoffführender Sedimentbecken verwendet werden. Diese Information ist wertvoll, um das Potenzial der zugehörigen Reserven während der Exploration zu beurteilen. Diese Technik, die mit Axio Imager 2 angewendet werden kann, basiert auf der Messung des prozentualen Anteils des von den einzelnen Vitrinitpartikeln reflektierten Lichts in ganzen Gesteinsdünnschliffen, in Bohrklein oder in Kerogenkonzentraten. Darüber hinaus wird einestrukturelle Klassifikation der Partikel durchgeführt, um den Vitrinitgehalt vollständig zu beschreiben.

     

    Kohle- und Vitrinitreflexion

    Vitrinitreflexionsmessungen sind eine wichtige Methode für die Klassifikation von Kohle mithilfe von Polarisationsmikroskopen wie Axio Imager 2 oder Scope.A1. Die Reflexion von Vitrinit, einem organischen Hauptbestandteil von Kohle, korreliert mit der Entstehungsgeschichte der Kohle und damit mit dem Grad der Inkohlung, der ein weiterer Indikator für die Qualität und den Wert der Kohle ist. Die Methode zur Messung der Vitrinitreflexion unterliegt internationalen Normen, z.B. DIN 22020-5 oder ISO 7404-5. Die klassische Methode zur Messung der Vitrinitreflexion stützte sich auf Photomultiplier, während heute Spektrometer und digitale CCD-Kameras verwendet werden. Die Vitrinitreflexion und die Mazeralanalyse dienen auch als Reifeindikator in Kohlenwasserstoff-Muttergesteinen, ein wichtiger Parameter in der Ölexploration.

     

    Bohrplatzanalysen

    Das Verständnis der mineralischen Zusammensetzung des Bohrguts von einem Öl- oder Gas-Bohrplatz ist entscheidend für die Festlegung der interessierenden Region. Darauf basierend können korrekte Entscheidungen über die Bohrsteuerung sowohl für Pilot- als auch für seitliche Bohrlöcher, getroffen werden. Die mineralogischen Informationen können dazu beitragen, strukturelle Veränderungen und spröde Zonen zu identifizieren, um die Wahl optimaler Fraccing-Positionen zu erleichtern. RoqSCAN, ein Rasterelektronenmikroskop, bringt dank seiner Tragbarkeit und seines robusten Designs Echtzeitanalysen und Bohrgutberichte direkt an die Bohrstelle. Der schnelle Einsatz und die unmittelbaren Ergebnisse ermöglichen schnelle, genaue Entscheidungen zur Bohrsteuerung, um die Gewinnung zu optimieren und die Produktivität der Bohrlöcher zu verbessern.

     

    Mikrofossilien und Biostratifikation

    Das visuelle Studium von Mikrofossilien ermöglicht der Öl- und Gasexplorationsindustrie ein detailliertes Verständnis der stratigraphischen Sequenz. Das Vorhandensein von Mikrofossilien erlaubt die Identifizierung eindeutiger Klassen in einer stratigraphischen Sequenz. Dünnschliff-Durchlichtmikroskopie und Auflichtmikroskopie mit einem aufrechten Mikroskop wie Axio Imager 2 oder Scope.A1 mit polarisiertem Licht bieten eine schnelle und einfache Visualisierungsmethode. Das Rasterelektronenmikroskop EVO liefert hochauflösende Bilder charakteristischer Unterscheidungsmerkmale der Arten.

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren. Nutzen Sie einfach unser Kontaktformular

    Empfohlene Produkte für die Erdölexploration

    SmartSEM

    EVO MA

    AURIGA Laser

    Crossbeam

    Axio Scope.A1

    Axio Imager Polaristation

    Axio Observer

    Axio Vert.A1

    Axio Zoom.V16

  • Stromerzeugung

    Kraftwerke

    Kohle ist einer der am häufigsten vorkommenden fossilen Brennstoffe der Erde und ein wichtiges Ausgangsmaterial für die Stromerzeugung. Die Qualität der verwendeten Kohle ist von entscheidender Bedeutung. Vorkenntnisse über dens Aschegehaltder Kohle liefern wichtige Informationen für die Verbesserung der Verfahren. Die Zusammensetzung und Reinheit der verwendeten Kohle hat direkte Auswirkungen auf die Effizienz eines Kraftwerks und auf die Menge der entstehenden Flugasche. SmartPI für Ihr Rasterelektronenmikroskop charakterisiert, klassifiziert und quantifiziert mineralische Stoffe. Das Kohlen-Plug-in SmartPI meldet Daten, um die Steuerung der Verbrennungsvariablen zu unterstützen, und trägt damit sowohl zur Minimierung der Schlackenbildungs- und Fäulnisprozesse bei als auch zur gleichzeitigen Verbesserung der Anlageneffizienz.

     

    Dünnschicht-Photovoltaikzellen

    Ein tiefgehendes Verständnis der systematischen Interaktion von Mikrostrukturen, Zusammensetzungen und elektronischen Eigenschaften ist entscheidend für die Verbesserung der Solarzellen-Technologie. AURIGA Crossbeam kombiniert ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem fokussierten Ga-Ionenstrahl- (FIB) und einem Gaseinspritzsystem (GIS), und liefert die maximalen nanoskopischen Informationen aus Ihrer Probe. Darüber hinaus liefert die Kombination von elementaren EDS-Analysen mit seriellen FIB-Schnitten Informationen über die 3D Elementzusammensetzung einer Probe in Submikrometer-Auflösung, Mit Axio CSM 700 können Höhe und Breite von Silberfingern sowie die Schichthöhe gemessen werden. Außerdem kann das Helium-Ionen-Mikroskop Orion Plus (HIM) Dämmstoffproben abbilden, so dass sowohl die leitfähige Aluminiumbeschichtung als auch die Details der Glasoberfläche mit kontrastreichen Bildern dargestellt werden können.

     

    Kristalline Silizium-Solarzellen

    Solarzellen bestehen hauptsächlich aus kristallinem Silizium. Der Hauptbestandteil -Silizium wird in verschiedene Kategorien eingeteilt entsprechend der Kristallinität und Kristallgröße der hergestellten Gußblöcke, Kupferdrähte oder Wafer. Bei kristallinen Silizium-Solarzellen lassen sich drei Hauptkategorien unterscheiden: Monokristallines, poly-/multikristallines und Foliensilizium. Allgemeine Fehleranalysen relativ großer Defekte werden in der Regel mit einem Stereo-, Zoom- oder zusammengesetzten aufrechten Mikroskop wie Axio Scope oder Axio Imager durchgeführt. Die Analyse selbst wird normalerweise je nach dem zu analysierenden Fehler im Auflicht mit Hellfeld-, Dunkelfeld- oder DIC-Mikroskopie durchgeführt. Die Oberflächenmorphologie kann des Weiteren mit Axio CSM 700 und Axio LSM 700 beurteilt werden.

     

    Batterien und Brennstoffzellen

    Die Entwicklung effizienter Speichertechnologien wie -Li-Ionen-Batterien für elektrischen Strom spielt eine wichtige Rolle im Fortschritt der Elektromobilität. Die Leistung einer Li-Ionen-Batterie wird von ihrer Energiedichte, von der Batterieladung und kapazität, von ihren Lade- und Entladeraten sowie von ihrer Lebensdauer bestimmt. Die Fehlerdiagnose von Li-Ionen-Batterien wird durch Lichtmikroskopie (LM) ermöglicht, während die Charakterisierung der Mikrostruktur durch ein Elektronenmikroskop erfolgt. Da das durch diese Techniken gewonnene Informationspotenzial gleichermaßen wertvoll ist, wird die korrelative Mikroskopie unerlässlich. Die korrelative Mikroskopie ermöglicht die Analyse der Beziehungen zwischen Zellendesign und Batterieleistung. Shuttle and Find ist das Tool, das die Korrelation der Ergebnisse der einzelnen Instrumente von ZEISS ermöglicht.

     

     

    Über geeignete Geräte für diese Anforderungen würden wir Sie gerne persönlich informieren. Nutzen Sie einfach unser Kontaktformular

     

    Empfohlene Mikroskopprodukte für die Strom- und Energieerzeugung

    SmartSEM

    EVO MA

    SIGMA

    Axio Imager 2

  • Erneuerbare Ressourcen

    Mit dem Anstieg der Weltbevölkerung und dem Rückgang fossiler Brennstoffe bleibt nur eine Lösung: die Suche nach alternativen Energiequellen:

    Die Technologien für die Nutzung nicht erneuerbarer Ressourcen haben sich in den vergangenen Jahren stark verbessert, aber in vielen Fällen ist die Nachfrage immer noch höher als das Angebot. Im Solarbereich hat sich die jährliche Stromproduktion durch Photovoltaikanlagen seit dem Jahr 2000 fast verhundertfacht. Trotzdem sind weitere Verbesserungen der Technologie notwendig, um ihre Effizienz zu verbessern und die Herstellungskosten zu senken.

     

    Solarenergie und Photovoltaik

    Wir bei ZEISS entwickeln moderne Instrumente für diese technologischen Fortschritte, um es den Energieerzeugern zu ermöglichen, die wachsenden Anforderungen der Zukunft zu erfüllen. Sowohl unsere Licht- (LM) als auch unsere Rasterelektronenmikroskop- (SEM) Lösungen werden von der Solarindustrie für die Entwicklung kristalliner Siliziumzellen und Dünnschicht-Photovoltaikzellen verwendet. So liefern SEM-Instrumente von ZEISS zum Beispiel tiefergehende Informationen über die systematische Interaktion von Mikrostrukturen, über Zusammensetzungen und elektronische Eigenschaften von Dünnschicht-Photovoltaikzellen.

     

    Lithium-Ionen-Technologie

    Unsere korrelative Mikroskopielösung Shuttle & Find wird in der Ionen-Lithium-Batterie-Forschung zur Überprüfung der Trennung von Kathode und Anode verwendet. Mit Lichtmikroskopen kontrolliert man zuerst die Schnittstelle und die Morphologie der aktiven Materialien. Dann werden mit dem SEM Veränderungen in der chemischen Zusammensetzung entlang dieser Schnittstelle detaillierter untersucht.

     

    Die richtige Software für die richtige Aufgabe

    Die Benutzerfreundlichkeit und Funktionalität unserer Mikroskope wurden durch die Integration von Software auf ein höheres Niveau gehoben. Jetzt analysieren Sie natürliche Ressourcen mit automatischer Detektion und Partikelcharakterisierung. Wir bieten auch präzise und automatische Lösungen zur Verbesserung der Effizienz von Biomasseanlagen. Software-Anwendungen ermöglichen es Kraftwerken, Fäulnisprozesse in wärmeübertragenden Leitungen zu kontrollieren und die Verwendung von Biomasse neben Kohle zu prüfen.

     

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    Empfohlene Produkte für erneuerbare Ressourcen

    AxioVision

    Axio Scope.A1

    EVO MA

    SIGMA

    Axio Imager 2

    AURIGA Laser

    Crossbeam

    Axio Imager Vario

    Shuttle & Find

    MERLIN

  • Solar- und Halbleiterindustrie

    Qualitäts-Monitoring

    Wirtschaftliche Effizienz und Kosteneffektivität zählen zu den wichtigsten Anforderungen, vor denen die Photovoltaikindustrie und die Hersteller von Wafern, Transistoren, Dioden und integrierten Schaltungen stehen. Die Lichtmikroskopie liefert F&E-Informationen im Bereich Solarzellen und Halbleitergeräte und wird im Zuge des Fertigungsprozesses eingesetzt, um die Qualität von Zell- und Wafer-Oberflächen sowie von Metallkontakten, Schichten, Isoliergräben und elektrische Schaltungen zu überwachen.

     

    Isoliergräben und Finger

    Die Oberfläche kristalliner Siliziumzellen wird durch verschiedene Techniken wie Ätzen strukturiert. Optische Mikroskopietechniken helfen Ihnen, die Homogenität der resultierenden Oberflächentextur zu gewährleisten. Die Metallkontakte, die per Siebdruck auf die Front aufgebracht werden, werden als Silberfinger bezeichnet. Die ordnungsgemäße Durchführung des Drucks wird durch mikroskopische Untersuchungen der Finger bestätigt. Mit Lichtmikroskopie wird auch überprüft, ob die Isoliergräben kontinuierlich verlaufen, regelmäßig sind und eine gleichmäßige Tiefe aufweisen.

     

    Spot-on-Dünnschicht-Solarzellen

    Mikroskopie-Applikationen im Kontext von Dünnschicht-Solarzellen untersuchen entweder Abdeckung, Kontinuität und Homogenität der Schichten oder die Schichtdicke. Während diese Schichten mit Standardmethoden der Lichtmikroskopie schwer zu messen sind, kann die Höhe einer Schicht an ihren Rändern entweder mithilfe von Total Interference Contrast (TIC) oder mit einem Konfokalmikroskop bestimmt werden. Ihr Lichtmikroskop unterstützt Sie auch beim Monitoring der Qualität der Isolierfelder von Dünnschichtzellen, indem es sicherstellt, dass die Felder kontinuierlich sind, die richtige Tiefe haben und blockadefrei sind.

     

    Wafer-Qualitätssicherung

    In der Fertigung von Halbleitergeräten werden elektronische Schaltungen auf Wafern hergestellt. Die Qualitätskontrolle der Rohmaterialien ist entscheidend, da kristalline Fehler oder Verschmutzungen zum Ausfall eines Geräts führen können. Für die Inspektion vollständiger Wafers mit einem Durchmesser bis 300 mm werden Lichtmikroskope benötigt, mit denen große Proben untersucht werden können. Die Qualitätskontrolle während der verschiedenen Fertigungsstufen kann die Überwachung der Effizienz von Ablagerungs-, Ätz- und Lithografieprozessen sowie die Bestimmung der Schichtdicke beinhalten.

     

    Tiefgehende Untersuchung von Kunststoffsubstraten

    Dünnschicht-Photovoltaikelemente werden nicht nur auf Glas oder Metall, sondern auch auf flexiblen Kunststoffsubstraten aufgebracht. Deshalb werden auch leitfähige Klebstoffe für flexible und bedruckbare Verbindungen entwickelt. Ihre Flexibilität, Adhäsion und Leitfähigkeit müssen optimiert werden, indem Zusammensetzung und Härtungsverfahren abgestimmt werden. Das Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist Ihr wichtigstes Instrument zur Untersuchung der Mikrostruktur dieser Verbindungen. Verwenden Sie ein FIB-SEM für die Präparation von Strukturen, die tief unter dem Substrat oder unter dem Passivierungsmaterial liegen. FIB-SEM zeichnet sich durch seine Ätz- und Präparationsfähigkeiten aus.

     

    Nano-Prototyping

    In F&E im Bereich Nanotechnologie wie zum Beispiel beim Halbleiter-Prototyping hat sich eine starke Nachfrage nach der präzisen Entfernung von Strukturen im Mikro- und Sub-Mikrometerbereich entwickelt. Hier ist ein FIB-SEM das Instrument Ihrer Wahl.

     

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    Empfohlene Produkte für Maschinen- und Werkzeugbau

    AURIGA

    AURIGA Laser

    Crossbeam

    ORION NanoFab

    Axio Imager 2

    Axio Imager Vario

    Axio Scope.A1

  • Stahl und Metall

    Von Standard-Stahl- bis zu High Tech-Produkten

    Stahl ist eines der wichtigsten Baumaterialien, dessen weltweite Produktion in den vergangenen Jahren signifikant angestiegen ist. Die Produktpalette, die Ihr Markt anbietet, ist breiter als in der Vergangenheit und reicht von Standard-Strukturwerkstoffen bis hin zu technischen High End-Produkten. Um sicherzustellen, dass der Stahl die an ihn gestellten Anforderungen erfüllt, wurden in der Produktion moderne Qualitätskontrollverfahren eingeführt. Die derzeitigen nationalen und internationalen Normen und Standards wie DIN 50602:1985, EN 10247:2007, ASTM E 45-05, ISO 4967:1998 und
    JISG  0555:2003 basieren häufig auf automatisierten Bildanalysemethoden, und Messungen werden mit Hilfe spezialisierter Software-Module durchgeführt. Dies gilt für Parameter wie nicht-metallische Einschlüsse (NMI) in Stahl und für die Analyse von Korngrößen - Faktoren, die die Härte, Bearbeitbarkeit und Stärke Ihres Stahls bestimmen. Moderne, dedizierte Mikroskopsysteme unterstützen insbesondere normengerechte Messungen.

     

    Nichtmetallische Einschlüsse

    Eines unserer grundlegendsten Qualitätsprobleme in der Stahlproduktion sind nicht-metallische Einschlüsse (NMI) im Stahl in Form von Schlacken oder rohen Legierungselementen. Sie haben erhebliche Auswirkungen auf die mechanischen Eigenschaften des Stahls, wie Härte, Ermüdungsbean-spruchung und viele andere Faktoren. Darüber hinaus haben selbst kleine Verunreinigungen verheerende Folgen, wenn sie zum Ausfall eines bear-beiteten Produkts führen. Deshalb gibt es strenge Normen und Standards für die Qualitätsbeurteilung von Stahl. Ihr ideales automatisiertes Mikros-kopsystem bestimmt den Gehalt nicht-metallischer Einschlüsse (NMI) quantitativ und zuverlässig und verwendet dazu die in das ZEISS NMI System integrierten digitalen Technologien und Bildanalysen. Die der In-spektion festgestellten Einschlüsse lassen sich mit dem Lichtmikroskop leicht dokumentieren. Weitere morphologische Analysen werden mit dem Rasterelektronenmikroskop (SEM) mittels korrelativer Mikroskopie mit Shuttle & Find durchgeführt. Das ermöglicht eine hochdetaillierte strukturelle Bildgebung und präzise Informationen über die chemische Zusammensetzung und die kristallografische Ausrichtung des Einschlusses durch Röntgenanalysetechniken wie EDS, EDS oder EBSD im SEM.

     

    Größenbestimmung der Körner

    Die Korngröße Ihres fertigen Stahls - ein weiterer Faktor, der seine Härte und Zugfestigkeit bestimmt - wird durch bestimmte Verfahrenstechniken kontrolliert. Mithilfe spezieller Software-Module Ihres Mikroskopes- bestimmen Sie Größen, Größenverteilung und Korngrenzen und evaluieren diese Daten nach internationalen Normen und Standards.

     

    Quantitative Metallographiestudien

    Damit Ihr Stahl die Anforderungen einer bestimmten Anwendung oder eines bestimmten Produkts erfüllt, muss er spezifische Merkmale in Bezug auf Verformbarkeit, Härte etc. aufweisen. Quantitative metallographische Untersuchungen werden bei der Charakterisierung von Stahl oder bei der Entwicklung neuer Legierungen durchgeführt, um die Korrelation zwischen Mikrostruktur und Materialeigenschaften zu bestimmen. Dies beinhaltet die Auswirkungen von Legierungselementen auf Eigenschaften wie Verschleißfestigkeit und Korrosionsbeständigkeit und beinhaltet die systematische Untersuchung der Mikrostruktur mit lichtmikroskopischen Methoden.

     

    Überbrückung der Mikro- und Nano-Welt bei Stahl- und Metallanwendungen

    Kombinieren Sie die optischen Kontrasttechniken Ihres Lichtmikroskops und die Analysemethoden Ihres Elektronenmikroskops mit Shuttle & Find, der branchenführenden korrelativen Mikroskopielösung von ZEISS. Sammeln Sie Informationen über Funktion und Struktur von Stahl, Eisen und anderen Metallarten. Shuttle & Find mit seinen einmaligen Hard- und Softwaremodulen erlaubt einen einfachen und produktiven Workflow. Verwenden Sie das Lichtmikroskop, um interessierende Regionen Ihrer Probe wie Einschlüsse, Ausfällungen, Körner oder Risse zu erfassen und zu markieren. Finden Sie die Region of Interest mit demselben speziellen Probenhalter schnell und einfach im Elektronenmikroskop wieder und erhöhen Sie die Auflösung des Bildes. Jetzt setzen Sie die umfassendere Untersuchung der Materialzusammensetzung fort und legen Sie die generierten Bilder dann übereinander. Sie erzielen absolut reproduzierbare Ergebnisse und sparen Zeit und Kosten.

     

    Kohle- und Vitrinitreflexion

    Vitrinitreflexionsmessungen sind eine wichtige Methode für die Klassifikation von Kohle mithilfe von Polarisationsmikroskopen wie Axio Imager 2 oder Axio Scope.A1. Die Reflexion von Vitrinit, einem der Hauptbestandteile von Kohle, korreliert mit der Entstehungsgeschichte der Kohle und damit mit dem Grad der Inkohlung, der ein weiterer Indikator für die Qualität und den Wert der Kohle ist. Die Vitrinitreflexionsmethode unterliegt internationalen Normen wie DIN 22020-5 oder ISO 7404-5. Die klassische Vitrinitreflexionsmethode stützte sich auf Photomultikatoren, während heute Spektrometer und digitale CCD-Kameras wie AxioCam von ZEISS verwendet werden. Die Vitrinitreflexion und die Mazeralanalyse dienen auch als Reifeindikator in Kohlenwasserstoff-Muttergesteinen, ein wichtiger Parameter in der Ölexploration.

     

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    Empfohlene Produkte für die Stahlindustrie

    AxioVision

    Axio Observer

    NMI-System

    Shuttle & Find

    SIGMA

    MERLIN

 IMTEC GmbH·Hönnetalstraße 150·58675 Hemer·Tel.: +49 2372 9690-0·Fax: +49 2372 9690-10·Email: info@imtecgmbh.com

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Materialmikroskopie Industriesektoren Als führender Hersteller von Mikroskopsystemen bieten wir Komplettlösungen für Industrie, Materialforschung und Wissenschaft an. Wählen Sie Ihren Industriesektor aus der untenstehenden Liste. Erfahren Sie mehr über die Voraussetzungen für erfolgreiches Imaging und über die Vorteile unserer maßgeschneiderten Weitfeld-, Konfokal- und Elektronenmikroskopsysteme.